
Zakład Fizyki Stosowanej, Instytut Fizyki CN-D Politechniki Śląskiej, CNT ul. Konarskiego 22B, 44-100 Gliwice
telefon: 32 237 2932, faks: 32 237 1778, e-mail:
zfs@polsl.pl
Dr inż.
Alina Domanowska
Adiunkt
Instytut Fizyki, pokój 113
telefon: 32 237 1452
e-mail: Alina.Domanowska@polsl.pl
Zainteresowania naukowe
- analiza chemiczna stałych próbek przewodzących i półprzewodzących metodą spektroskopii elektronów Augera,
- profilowanie chemiczne, mapowanie chemiczne,
- numeryczna analiza wyników, SEM.
Publikacje
- M. Akazawa, A. Domanowska, B. Adamowicz, H. Hasegawa: Capacitance-voltage and photoluminescence study of high-k/GaAs interfaces controlled by Si interface control layer, Journal of Vacuum Science and Technology B 27 (2009) 2028-2035.
- A. Domanowska, R. J. Bukowski: Theoretical Analysis of Pulsed Photoacoustic Effect in Solids, International Journal of Thermophysics 30 (2009) 1536-1556.
- H. Hasegawa, M. Akazawa, A. Domanowska, B. Adamowicz, Surface passivation of III–V semiconductors for future CMOS devices—Past research, present status and key issues for future, Applied Surface Science 256 (2010) 5698–5707.
- A. Domanowska, B. Adamowicz, P. Bidziński, A. Klimasek, J. Szewczenko, T. Gutt, H. Przewłocki, Analysis of chemical shifts in Auger electron spectra versus sputtering time from passivated surfaces, Optica Applicata XLI(2) (2011) 441–447.
- A. Domanowska, M. Miczek, R. Ucka, M. Matys, B. Adamowicz, J. Żywicki, … M. Sochacki, Surface photovoltage and Auger electron spectromicroscopy studies of HfO2/SiO2/4H-SiC and HfO2/Al2O3/4H-SiC structures, Applied Surface Science 258(21) (2012) 8354–8359.
- P. Karasiński, C. Tyszkiewicz, A. Domanowska, A. Michalewicz, J. Mazur, Low loss, long time stable sol–gel derived silica–titania waveguide films, Materials Letters 143 (2015) 5–7.
- K. Król, M. Sochacki, M. Turek, J. Żuk, P. Borowicz, D. Teklińska, P. Konarski, M. Miśnik, A. Domanowska, A. Michalewicz, J. Szmidt, Influence of phosphorus implantation on electrical properties of Al/SiO2/4H-SiC MOS structure, Materials Science Forum 821 (2015) 496–499.
- M. Matys, B. Adamowicz, A. Domanowska, A. Michalewicz, R. Stoklas, M. Akazawa, Z. Yatabe, On the origin of interface states at oxide / III-nitride heterojunction interfaces, Journal of Applied Physics 120 (2016) 225305.
- I. Klosok-Bazan, J. Boguniewicz-Zablocka, V. Naddeo, A. Domanowska, Tap water as a source of indoor radon in houses, MATEC Web of Conferences 174(01034), (2018) 1–7.
- M. Basiaga, W. Walke, W. Kajzer, A. Hyla, A. Domanowska, A. Michalewicz, C. Krawczyk, Analysis of the corrosion protective ability of atomic layer deposition silica-based coatings deposited on 316LVM steel, Materialwissenschaft Und Werkstofftechnik 49(5) (2018) 551–561.
- A. Domanowska, Chemical characterization of SiO2:TiO2 waveguide films using Auger electron spectroscopy, In R. S. Romaniuk, A. Smolarz, & W. Wójcik (Eds.), Optical Fibers and Their Applications 2018 (Vol. 1, p. 17).
- A. Domanowska, R. Korbutowicz, H. Teterycz, Morphology and element composition of alumina films obtained by mixed thermal oxidation of AlN epitaxial layers, Applied Surface Science (2019) (in print).
© 2008-2019 ZFS, projekt i kodowanie:
AKB (na podstawie poprzedniego projektu B. Buraka i M. Szydłowskiego)
zdjęcia: M. Szydłowski, A. Domanowska, M. Szum, M. Andrzejczuk