English version Zakład Fizyki Stosowanej, Instytut Fizyki CN-D Politechniki Śląskiej, CNT ul. Konarskiego 22B, 44-100 Gliwice
telefon: 32 237 2932, faks: 32 237 1778, e-mail: zfs@polsl.pl

Prof. Dr hab.

Stanisław Kochowski

Profesor zwyczajny

Instytut Fizyki, pokój 110

telefon: 32 237 2093

e-mail: Stanislaw.Kochowski@polsl.pl


Zainteresowania naukowe

Publikacje

  1. S. Kochowski, M. Szydłowski, R. Paszkiewicz, B. Paszkiewicz: Analysis of electrical equivalent circuit of metal-insulator-semiconductor structure based on admittance measurements, Materials Science - Poland 26 (2008) 63-69.
  2. D. Korte Kobylińska, R. J. Bukowski, J. Bodzenia, S. Kochowski, A. Kaźmierczak-Bałata: Detector effects in photothermal deflection experiments, Applied Optics 47 (2008) 1559-1566.
  3. D. Korte-Kobylińska, R. J. Bukowski, J. Bodzenta, S. Kochowski: Thermal parameters of solids determination by the photodeflection method – theories and experiment comparison, Optica Applicata 38 (2008) 445-458.
  4. D. Korte Kobylińska, R. J. Bukowski, J. Bodzenta, S. Kochowski: The complex geometrical optics application to thermal parameters of solids determination by the photodeflection method, Optica Applicata 38 (2008).
  5. S. Kochowski, Ł. Drewniak, K. Nitsch, R. Paszkiewicz, B. Paszkiewicz, Analysis of filling pulse parameters influence on ICTS data of GaAs MIS structures, Materials Science-Poland 08/2013, 31(3):446-453. DOI: 10.2478/s13536-013-0124-6.
  6. Ł. Drewniak, S. Kochowski, K. Nitsch, R. Paszkiewicz, B. Paszkiewicz, The analysis of filling pulse parameters influence on ICTS data of GaAs MIS structures, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 07/2013, DOI: 10.1117/12.2030108.
© 2008-2019 ZFS, projekt i kodowanie: AKB (na podstawie poprzedniego projektu B. Buraka i M. Szydłowskiego)
zdjęcia: M. Szydłowski, A. Domanowska, M. Szum, M. Andrzejczuk